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半导体测试插座
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半导体测试插座
专为半导体生产和验证环境中的高精度、高可靠性测试而设计。这些插座旨在为测试系统和被测设备 (DUT) 之间提供稳定的接口,确保精确的信号完整性、最小的接触电阻以及即使在重复测试循环下也能保持持久的性能。
主要特点:
高循环耐久性,低接触电阻
出色的电气性能,适用于高频测试
可选散热和夹紧功能
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